Leistungsbeschreibung – ToF-SIMS Analyse
Wir bieten die Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) zur hochsensitiven Analyse der atomaren und molekularen Zusammensetzung von Festkörperoberflächen an. Das Verfahren ermöglicht die Untersuchung der obersten 1–3 Monolagen mit extrem hoher Empfindlichkeit.
Dabei werden die Probenoberflächen mit primären Ionen beschossen, wodurch Sekundärionen freigesetzt werden. Diese werden nach ihrem Masse-Ladungs-Verhältnis analysiert und liefern detaillierte Informationen zur chemischen Zusammensetzung der Oberfläche.
Leistungsumfang
- Analyse der obersten 1–3 Monolagen von Festkörpern
- Massenspektrometrische Auswertung von Sekundärionen
- Nachweis extrem geringer Konzentrationen im fmol-Bereich
- Bildgebende Oberflächenanalyse mit ca. 1 µm Auflösung
- Erstellung von Tiefenprofilen mittels Sputtertechnik
- Identifikation organischer und anorganischer Substanzen
- Normgerechte Dokumentation der Analyseergebnisse
Typische Anwendungen
- Haftungsversagen und Grenzflächenanalyse
- Restschmutz- und Kontaminationsanalyse
- Metall- und Kunststoffoberflächen
- Additiv- und Weichmachermigration in Polymeren
- Optische Beschichtungen und Funktionsschichten
- Korrosions- und Alterungsuntersuchungen
Ihr Vorteil
Die ToF-SIMS-Analyse ermöglicht eine extrem empfindliche, molekulare Oberflächencharakterisierung bis in den Sub-Monolagenbereich, ideal für hochpräzise Material-, Fehler- und Kontaminationsanalysen in Industrie und Forschung.