Rasterelektronenmikroskopie
Rasterelektronenmikroskopie (REM) – Erfahrung, Präzision, Expertise
Die Rasterelektronenmikroskopie (REM) ist eine leistungsfähige Technik zur Untersuchung der Oberflächenstruktur und -morphologie von Materialien auf mikroskopischer Ebene. Bei diesem hochauflösenden Bildgebungsverfahren werden Elektronenstrahlen eingesetzt, um detaillierte Oberflächenbilder zu erzeugen. Im Vergleich zu herkömmlichen Lichtmikroskopen bietet die REM eine deutlich höhere Auflösung – Strukturen im Nanometerbereich werden sichtbar.
An unseren drei Standorten betreiben wir insgesamt vier vollwertige Rasterelektronenmikroskope, die von Experten mit langjähriger Erfahrung bedient werden. Die Kombination aus modernster Technik und fundiertem Fachwissen ermöglicht es uns, eine breite Palette von Anwendungen präzise abzudecken und zuverlässige Ergebnisse für Qualitätssicherung, Schadensanalysen und Materialentwicklung zu liefern.
Die Erfahrung macht den Unterschied – bei CERTANIA Industrial Analytics verbinden wir modernste REM-Technologie mit fundierter Expertise für Ergebnisse auf höchstem Niveau.
Oberflaechenstruktur eines plasmainduzierten Brennflecks
Mirkoskopischen Bruchmerkmale eines Schwingbruchs
NaCl korrodierte Stahloberfläche
Bruchfläche: thermoplastisches Elastomer nach dem Zugversuch
Rasterelektronenmikroskopie eines geschmolzenen Drahtes (Glühwendel)
Tiefengeätzte AlSi Legierung mit optimierten Gefüge
EDX Mapping: Flüssigmetallinduzierte Konrgrenzenschädigung in Gusseisen
REM Aufnahme mit EDX Mapping
Elementverteilungsbild: EDX Mapping Analyse
Bei der Wechselwirkung des Elektronenstrahls mit dem Probenmaterial entsteht eine charakteristische Röntgenstrahlung mit der die chemische Zusammensetzung qualitativ sowie semiquantitativ bestimmt werden kann.
Durch das Abrastern der Probe mit dem Elektronenstrahl bei gleichzeitiger EDX Messung können Elementverteilungsbilder. Die Mappings sind besonders interessant, da Sie sehr anschaulich vorliegende die Unterschiede in der Zusammensetzung in Zusammenhang mit der Struktur darstellen.
