Phasenanalyse mittels Röntgendiffraktometrie (XRD)
Wir bieten Phasenanalysen mittels Röntgendiffraktometrie (XRD) zur präzisen Untersuchung der Kristallstrukturen und Phasenverteilungen in Materialien und Komponenten an. Das Verfahren ermöglicht die eindeutige Identifikation kristalliner Strukturen sowie die quantitative Bewertung von Phasenanteilen.
Insbesondere im Bereich von Elektrodenmaterialien erlaubt XRD die Analyse der aktiven Materialstruktur sowie die Erkennung struktureller Veränderungen infolge von Lade- und Entladezyklen oder langfristiger Beanspruchung.
Leistungsumfang
- Identifikation kristalliner Phasen mittels XRD
- Analyse von Kristallstrukturen und Gitterveränderungen
- Quantitative Bestimmung von Phasenanteilen
- Untersuchung von Strukturveränderungen nach zyklischer Belastung
- Bewertung von Alterungs- und Degradationsprozessen
- Dokumentation der Ergebnisse in normgerechter Form
Typische Anwendungen
- Elektroden- und Batteriematerialien
- Werkstoffentwicklung und Forschung
- Qualitätskontrolle von Funktionsmaterialien
- Analyse von Alterungs- und Belastungseffekten
- Strukturuntersuchungen in der Materialtechnik
Ihr Vorteil
Die Phasenanalyse mittels XRD ermöglicht eine hochpräzise Charakterisierung kristalliner Materialien und deren Veränderungen über Lebensdauer und Belastungszyklen hinweg, ideal für Forschung, Entwicklung und Qualitätskontrolle.