Leistungsbeschreibung – Glimmentladungsspektroskopie (GDOES)
Wir bieten die Glimmentladungsspektroskopie (GDOES) zur schnellen und hochauflösenden Element- und Schichtanalyse von Werkstoffen an. Das Verfahren eignet sich besonders für die Untersuchung von Schichtsystemen und Beschichtungen.
Die Probe wird dabei als Kathode in einem Argonplasma eingesetzt. Durch Kathodenzerstäubung wird die Oberfläche schichtweise abgetragen, während die freigesetzten Atome im Plasma angeregt werden und charakteristische Strahlung emittieren. Diese wird spektroskopisch ausgewertet und ermöglicht eine präzise Elementanalyse über die Tiefe hinweg.
Leistungsumfang
- Qualitative und quantitative Elementanalyse von Schichtsystemen
- Erstellung von Tiefenprofilen durch schichtweisen Materialabtrag
- Analyse von Beschichtungen, Oberflächen und Grundwerkstoffen
- Untersuchung metallischer und nichtmetallischer Materialien
- Hochauflösende Elementverteilung über die Schichttiefe
- Einsatz von Hochfrequenztechnik für nichtmetallische Proben
- Normgerechte Auswertung und Dokumentation der Ergebnisse
Typische Anwendungen
- Beschichtungen in Korrosionsschutzsystemen
- Metallische Oberflächen und Funktionsschichten
- Automobil- und Maschinenbau
- Elektronik- und Halbleiterindustrie
- Qualitätskontrolle von Schichtsystemen
- Forschung und Materialentwicklung
Ihr Vorteil
Die Glimmentladungsspektroskopie ermöglicht eine schnelle, präzise und durchgehende Tiefenprofilanalyse von Schichtsystemen, ideal für industrielle Qualitätskontrolle und Materialentwicklung.